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Prüf- &
Messverfahren

TSCM & SWEEPS

Unsere Prüf- und Messverfahren

Halbleiterdetektoren

Gegenstände, die für eine Röntgeninspektion nicht geeignet sind (z. B. Bausubstanz oder massive Metallteile), müssen mit Halbleitersuchgeräten (sog. „Non-Linear-Junction-Detectors“ – NLJD‘s) eingehend überprüft werden. Diese Suchgeräte zur Lokalisierung elektronischer Baugruppen zählen ebenfalls zu den wichtigsten Hilfsmitteln bei der manuellen Überprüfung.

Die Wirkungsweise dieser technisch aufwendigen Messgeräte beruht auf der Auswertung von sog. harmonischen Oberwellen, die u. a. dann entstehen, wenn das von NLJD‘s ausgesandte HF-Trägersignal auf einen nichtlinearen Halbleiterübergang (z. B. Diode, Transistor oder IC) trifft. Soweit die Baugruppe nicht HF-dicht geschirmt ist, entsteht dabei, insbesondere bei inaktiven Baugruppen, eine ausgeprägte 2. Oberwelle, deren Feldstärke gemessen und mit internen Computern ausgewertet wird. In der Praxis sind oft selbst geschirmte Baugruppen anhand der über Antenne, Stromanschlusskabel oder Mikrofonleitung abgestrahlten harmonischen Feldstärke detektierbar.

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